Korrelationsuntersuchung
zwischen ESD-Testmodellen

Kurzbeschreibung

© Fraunhofer EMFT
cc-TLP-Elektrode über Wafer

Die Gruppe Analyse und Test hat im September 2016 den mit 30.000 US$ dotierten Grant des Educational Research Conseils 2016 der amerikanischen ESD Association Inc. zur Förderung herausragender industrierelevanter Forschung auf dem Gebiet der elektrostatischen Entladungen erhalten. Konkret wird mit dem Preis eine Promotionsarbeit gefördert, die die Korrelation der an der Fraunhofer EMFT entwickelten Capacitively Transmission Line Pulsing Methode CC-TLP gegenüber dem von erheblicher Messunsicherheit gekennzeichneten Charged Device Model Test CDM untersucht. Getestet werden modernste integrierte Schaltungen mit Gbit/s Datenraten.

Gefördert


Sponsoren sind Cisco Corp, GlobalFoundries Corp. und die ESD Association.