Test von Halbleiterbauelementen unter kryogenen Bedingungen

Als Bindeglied zwischen Forschung und industrieller Anwendung widmet sich das Fraunhofer EMFT in München der Charakterisierung  elektronischer Halbleiterbauelementen wie Transistoren oder Speicherbausteinen bei tiefsten Temperaturen und unter kryogenen Bedingungen. Durch diese Untersuchungen bewerten wir die Leistungsfähigkeit und Zuverlässigkeit dieser Bauelemente unter extremen Bedingungen und schaffen die Grundlagen für ihre Integration in neuartige Technologien.

Kryolabor des Fraunhofer EMFT 

In unserem Kryolabor heißen wir Partner aus Forschung und Industrie willkommen, die maßgeschneiderte Lösungen für ihre spezifischen Messaufgaben suchen. Ausgestattet mit modernsten Geräten, einer umfangreichen Messinfrastruktur und einem reichen Fundus an Fachwissen und Erfahrung erfüllen wir die vielfältigen Anforderungen unserer Kunden mit höchster Präzision und Zuverlässigkeit.

Unser ³He-⁴He-Mischkryostat wurde speziell für die Charakterisierung von Qubits und Quantentechnologien entwickelt, eignet sich aber auch für eine Vielzahl anderer Anwendungen. Er bietet ausreichend Platz für große Proben und eine hohe Kühlleistung, um den unterschiedlichsten Messanforderungen gerecht zu werden. Falls Sie Ihre Produkte bei extrem niedrigen Temperaturen testen möchten, jedoch keinen eigenen Kryostaten besitzen, bieten wir Ihnen unsere Servicemessungen an. Unsere Stärken liegen in unserer präzisen wissenschaftlichen Arbeitsweise und unserer hohen Flexibilität, die es uns ermöglicht, maßgeschneiderte Lösungen für Unternehmen mit spezifischen Messanforderungen anzubieten.

Spezifikationen

• Basistemperatur: <10 mK
• Kühlleistung:
  • >14 µW bei 20 mK
  • >400 µW bei 100 mK
  • >1.5 W bei 4 K
• >60 HF-Leitungen, >40 DC-DC-Leitungen
• Bandbreite: 18 GHz für HF-Leitungen
• Verschiedene Dämpfungsglieder, Verstärker, Filter, HF-Kryoschalter verfügbar
• Großes Testvolumen für viele Prüflinge

Leistungen im Bereich elektronischer Halbleiterbauelemente 

• HF-Messungen bis 18 GHz (z.B. Resonatoren)
• S-Parametermessung mit der Möglichkeit einer VNA-Kryokalibrierung am Ort des Prüflings, um den Einfluss der Zuleitungen und des Prüfaufbaus auszuschließen
• DC-Messungen (z.B. Widerstand, kritischer Strom, Transistorkennlinien)
• Messungen auf der 4K-Platte (z.B. für Kryoelektronik)
• Temperaturabhängige Messungen im Bereich von Raumtemperatur bis ~10 mK 
• Q-Faktor-Messungen von supraleitenden Resonatoren bis hin zum Single-Photon-Regime
• Diverse Qubit-Charakterisierungsmessungen (One- und Two-tone Spektroskopie, T1, T2*, T2)

Sie wollen mehr über Messungen von Halbleiterbauelementen am Kryostaten für die Praxis erfahren?

Dann nehmen Sie mit uns Kontakt auf!