Analyse und Test

Das Fraunhofer EMFT bietet umfassendes Know-how und modernste Infrastruktur für die Analyse und Test elektronischer Bauteile. Die Forschungs- und Entwicklungsaktivitäten reichen von Ausfallanalysen und ESD-Test- sowie Schutzkonzepten über die Bausteinpräparation für Sicherheitsanalysen bis hin zur Prüfung und Charakterisierung von Halbleiterkomponenten. Ein besonderes Alleinstellungsmerkmal ist das CC-EAL6-zertifizierte Sicherheitslabor, das Prüfungen auf höchstem Sicherheitsniveau ermöglicht.

 

Analytik und Zuverlässigkeit elektronischer Bauteile

Mit der Miniaturisierung in Mikroelektronik steigen die Anforderungen an Bauteile – eine Herausforderung besonders für KMUs. Das Fraunhofer EMFT bietet umfassende Dienstleistungen in Fehleranalyse, Qualitätssicherung, Zuverlässigkeitsbewertung und Prozessberatung – von der System- bis zur Chip-Ebene.

 

ESD Test und Prüfung

Das Fraunhofer EMFT ist führend in der Erforschung und Anwendung von Elektrostatischen Entladungen (ESD) in der Mikroelektronik. Mit spezialisierten Prüfverfahren, kundenspezifischen Testgeräten und robusten Schutzkonzepten bietet es international anerkannte Lösungen – praxisnah und integrierbar in Entwicklungs- und Qualitätssicherungsprozesse.

 

Test von Halbleiterbauelementen

Das Fraunhofer EMFT in München verbindet Forschung und Industrie bei der Charakterisierung elektronischer Halbleiterbauelemente wie Transistoren und Speicherbausteinen unter kryogenen Bedingungen. So werden Leistung und Zuverlässigkeit unter extremen Temperaturen bewertet – Basis für innovative Technologien.

 

Kryotechnik: Charakterisierung von Quanten-Hardware-Komponenten

Für die Entwicklung supraleitender Quantencomputer sind präzise Messmethoden entscheidend, um Qualität, Stabilität und Performance von Komponenten wie Qubits oder Signalleitungen zu verbessern. Das Fraunhofer EMFT verfügt über Expertise und Ausstattung für Analysen in Messumgebungen von wenigen Millikelvin.

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