Fraunhofer-Institut für Elektronische Mikrosysteme und Festkörper-Technologien EMFT
2-Pin Test System im Fraunhofer EMFT Testlabor für elektronische Bauteile und Systeme
Labore für Test und Analyse von elektronischen Komponenten und Systemen
Testlabor für elektronische Bauteile und Systeme
| Halbautomatische Waferprober bis 300 mm mit Thermochuck | |
| Halbleiterparameteranalysatoren | |
| Netzwerkanalysatoren im Megahertz-Bereich bis 110 Gigahertz und Simulator Agilent ADS | |
| Erzeugung und Messung von Piko- und Nanosekunden-Hochstromimpulsen | |
| 62 Gigahertz-Echtzeitoszilloskop | |
| Electrostatic Discharge Charakterisierung und Belastung (Automatischer 2-Pin Tester, CDM, HBM, TLP, VF-TLP, CC-TLP) | |
| Robustheitsmessplatz für EOS/ESD | |
| Dauerbiegetester für flexible und starr-flexible Aufbauten | |
| Hochaufgelöste Röntgentomographie und -laminographie für Bausteine und Leiterplatten | |
| Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit EDX-Analyse | |
Analyselabor für elektronische Baugruppen und Komponenten
ESA - Accepted Qualification Lab
- Qualifikationsuntersuchungen und Zuverlässigkeitstests von Leiterplatten, elektronischen Baugruppen sowie Hilfsmitteln nach Norm1
- Schadensanalytik und metallografische Schliffpräparation mit Lichtmikroskopischer und Röntgeninspektion sowie REM/EDX
- Risikoanalyse und Prozessoptimierung sowie Entwicklung von Testmethoden und -geräten
| Klimaschrank Feuchte-Wärme | Klimaprüfung: Feuchte-Wärme-Zyklisch bis +95°C und 98 % r.F. |
| Klimaschrank mit 2 Prüfkammern | |
| Klimaschrank Temperaturwechsel | Klimaprüfung: Temperaturwechselprüfung bis 200°C und bis 10k/min Klimaprüfung: Rascher Temperaturwechsel bis zu -80°C und 220°C |
| Trockenschrank | |
| Zug/Druck Material Prüfmaschine mit Klimakammer und Videoerfassung | Schockprüfung bis 5,9 max. Vektorkraft und 4000 Hz Kombinierte Temperatur Vibrationsprüfung |
| Elektrodynamische Schwinganlage mit dreiachsiger Aufspannvorrichtung | Vibrationsprüfung: Sinusförmig, Breitband bis 2,93 max. Vektorkraft und 4000 Hz |
| Stereo- und Auflichtmikroskope mit Bildanalyse | |
| Konfokales 3D-Laserscanningmikroskop | |
| Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit EDX-Analyse | |
| Röntgenprüfanlage mit Hochleistungs-CT Scan | Hochauflösende Röntgenanalyse mit CT-Prüfung |
| Hochauflösende DC-Spannungs- und Stromquelle mit hoher Samplingrate | Elektrische Lebensdauerprüfung mit automatisierter Spannungs- und Widerstandsmessung |
| Teraohm- und Picoamperemeter | |
| Programmierbares Hochstrom-Labornetzgerät bis 1000 A | |
| Kontaminationsmessgerät | |
| Tauchlötbad mit SPS Steuerung |