Fraunhofer EMFT Labore für Test und Analyse von elektronischen Komponenten und Systemen

2-Pin Test System im Fraunhofer EMFT Testlabor für elektronische Bauteile und Systeme
© Fraunhofer EMFT / Bernd Müller
2-Pin Test System im Fraunhofer EMFT Testlabor für elektronische Bauteile und Systeme

Testlabor für elektronische Bauteile und Systeme

Halbautomatische Waferprober bis 300 mm mit Thermochuck  
Halbleiterparameteranalysatoren  
Netzwerkanalysatoren im Megahertz-Bereich bis 110 Gigahertz und Simulator Agilent ADS  
Erzeugung und Messung von Piko- und Nanosekunden-Hochstromimpulsen  
62 Gigahertz-Echtzeitoszilloskop  
Electrostatic Discharge Charakterisierung und Belastung (Automatischer 2-Pin Tester, CDM, HBM, TLP, VF-TLP, CC-TLP)   
Robustheitsmessplatz für EOS/ESD  
Dauerbiegetester für flexible und starr-flexible Aufbauten  
Hochaufgelöste Röntgentomographie und -laminographie für Bausteine und Leiterplatten  
Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit EDX-Analyse  
   

Analyselabor für elektronische Baugruppen und Komponenten

ESA - Accepted Qualification Lab

- Qualifikationsuntersuchungen und Zuverlässigkeitstests von Leiterplatten, elektronischen Baugruppen sowie Hilfsmitteln nach Norm1

- Schadensanalytik und metallografische Schliffpräparation mit Lichtmikroskopischer und Röntgeninspektion sowie REM/EDX

- Risikoanalyse und Prozessoptimierung sowie Entwicklung von Testmethoden und -geräten

Klimaschrank Feuchte-Wärme Klimaprüfung: Feuchte-Wärme-Zyklisch bis +95°C und 98 % r.F.
Klimaschrank mit 2 Prüfkammern  
Klimaschrank Temperaturwechsel

Klimaprüfung: Temperaturwechselprüfung bis 200°C und bis 10k/min

Klimaprüfung: Rascher Temperaturwechsel bis zu -80°C und 220°C

Trockenschrank  
Zug/Druck Material Prüfmaschine mit Klimakammer und Videoerfassung

Schockprüfung bis 5,9 max. Vektorkraft und 4000 Hz

Kombinierte Temperatur Vibrationsprüfung

Elektrodynamische Schwinganlage mit dreiachsiger Aufspannvorrichtung Vibrationsprüfung: Sinusförmig, Breitband bis 2,93 max. Vektorkraft und 4000 Hz
Stereo- und Auflichtmikroskope mit Bildanalyse  
Konfokales 3D-Laserscanningmikroskop  
Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit EDX-Analyse  
Röntgenprüfanlage mit Hochleistungs-CT Scan Hochauflösende Röntgenanalyse mit CT-Prüfung
Hochauflösende DC-Spannungs- und Stromquelle mit hoher Samplingrate Elektrische Lebensdauerprüfung mit automatisierter Spannungs- und Widerstandsmessung
Teraohm- und Picoamperemeter  
Programmierbares Hochstrom-Labornetzgerät bis 1000 A  
Kontaminationsmessgerät  
Tauchlötbad mit SPS Steuerung  

CC-EAL6 zertifiziertes Sicherheitslabor

Partielle Gehäuseöffnung und Rückdünnung mechanisch und mit Laser  
Physikalische Analysen Integrierter Schaltungen  
Nanoskalige Rückpräparation  
Nanoskaliges Chip Scanning  
Layoutextraktion  

Diese technologischen Möglichkeiten im Bereich Test und Analyse von elektronischen Bauteilen und Systemen  stehen für Ihre Anwendungsthemen an der Fraunhofer EMFT zur Verfügung, nehmen Sie Kontakt mit uns auf!

 

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